創作幸房のアナログ・デジタルコンバーターテストセミナー資料室


生産技術や品質管理でADC・DACなどの半導体デバイスの評価・検査に取り組んで、日々目標の達成(テストコスト低減やテスト時間の短縮など)に努めている技術者のお役に立ちたいと考えています。


このサイトは創作幸房のテストセミナー資料室シリーズのNo2です。ここではアナログ・デジタル変換デバイスのテストを考えるための基礎技術とテストの高速化を取り上げています。

テスト仕様は創作幸房の半導体・電子デバイス用の大型自動検査機器の経験から、またデバイス仕様はカタログなどで公表されている情報に基いています。また資料に引用される場合はソースを明示の上お使いいただけますようお願いいたします。


このサイトの目次です:


 1.1 DACとADCの基本テストとテスト設定1

DC基本テスト:
1.フルスケール電圧
2.DCオフセット/ゲイン
3.INL/DNL
4.単調増加性
AC基本テスト:
1.ダイナミックレンジ(SNR/スプリアス)
2.THD/HD
3.残留ノイズ




























1.1 DACとADCの基本テストとテスト設定2

ADCの基本テスト:
コードエッジテスト:
1.ヒストグラム
  (アップランプ波/三角波/サイン波)
DC基本テスト:
1.DCオフセット/ゲイン
2.INL/DNL
3.ミッシングコード(ランプ/サイン波)
4.スパークリングコード
AC 基本テスト:
1.タイミング
  (変換時間/リカバリ/サンプリング)
2.ダイナミックレンジ(SNR/スプリアス)
3.THD/HD
4.クワィエットコード(残留ノイズ)

注記:SOCなどではチップ間の動作確認などが追加される














































あなたが電子計測の壁を感じても
なんとか切り抜けられるように応援しています。




掲載ガイドライン
学習には個人差があります。サイトの訪問者の方に誤解を与えたり不快感を感じるような誇大な表現は極力排除するように努めております。自主掲載ガイドラインを設定して、事実をお伝えし、目的達成に少しでも貢献できますように改善に努めて参ります。

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